هدف این تحقیق بررسی تغییرات خواص الکتریکی و ریزساختاری، در معروفترین سیستم وریستور اکسید قلع یا SCNCr با افزودن اکسید مس به مقدار mol%5 / 0 بعنوان تسریع کننده ی رشد دانه، با تغییر زمان زینتر است. جهت توزیع یکنواخت افزودنیها، ترکیب آسیاب و پرس شد و بعد از آن قرصهای خام وریستوری در دمای oC 1300 و زمانهای 1 ، 2:30 ، 5 و 10 ساعت زینتر شدهاند. پس از ارزیابی ریزساختاری مشاهد شد که میانگین اندازه دانه در ریزساختار تکفاز از 5 / 8 به μm 2 / 14 افزایش یافت که این افزایش در اندازه دانه، ناشی از افزایش زمان زینتر و همچنین تاثیر فاز مایع اکسید مس در حین زینترینگ است. علاوه بر این میدانهای الکتریکی شکست وریستور با گذشت زمان به تدریج از (kV/cm) 16 / 3 به (kV/cm) 30 / 1 کاهش یافت. همچنین ضریب غیرخطی با تغییرات غیریکنوایی بین اعداد 17 و 30 تغییر کرد.